Descriptors
Semiconductors, Semiconductor devices, Dielectric breakdown, Life (durability), Films (states of matter), Electrical measurement, Testing conditions
Title in French
Dispositifs semiconducteurs. Essai de rupture dilectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermtalliques
Title in German
Halbleiterbauelemente. Prfung auf zeitabhngigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen
Pages
20
File Size
1.271 MB
Price
100.00