Descriptors
Semiconductor devices, Integrated circuits, Electronic equipment and components, Mechanical testing, Environmental testing, Alpha particles, Errors, Computer storage devices
Title in French
Dispositifs a semiconducteurs. Mthodes dessais mcaniques et climatiques. Mthode dessai des erreurs logicielles pour les dispositifs semiconducteurs avec mmoire
Title in German
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prfverfahren. Soft-Error-Prfverfahren fr Halbleiterbauelemente mit Speicher
Pages
16
File Size
637.7 KB
Price
100.00